高階圖稿掃描器
QC430
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QC430
Non-Contact High-Precision Scanning
Delivers accurate scanning from a high working distance-ideal for non-flat or delicate objects.
Modular & Flexible Integration
Modular design allows easy integration with various equipment and conveyor systems, offering greater flexibility ininstallation and maintenance.
High-Speed USB 3.1 Transmission
USB 3.1 interface enhances image capture speed and ensures high productivity.
Adjustable Exposure for Optimized Imaging
Exposure time can be fine-tuned based on object characteristics to ensure the best image quality.
High-Precision & StableTransmission
Precision transmission system ensures stable scanning, minimizes errors, and improves inspection accuracy.
Dedicated SDK for Easy Integration
Comes with a full-featured SDK for seamless system integration and easy secondary development.
規格
| Item | Details |
| Product Name | Linear Scan Module |
| Image Sensor Type | Color Linear CCD |
| Resolution | 21.2μm / 1200dpi |
| Light Source | LED |
| Scanning Area | 304.8mm X 419.1mm(12”x16.5”) |
| Scanning Speed | 79.4s / 1200dpi |
| Connectivity | USB 3.1 |
| Working Distance | 30mm |
| Memory | 8GB |
| Output Format | TIFF / JPG |
| Dimensions (L x W x H) | 702mm (L) X 406mm (W) X 132mm (H) |
| Weight | 11kg |
| Power Supply | DC 24V,2.5A |
| Power Consumption | 60W |
| Operating Temperature | 5°C ~ 40°C |
*Product specifications described herein are subject to change without notice.
功能清單
高解析度彩色線掃描CCD：配備高性能彩色線掃描CCD感測器，可提供極為清晰、連續的影像擷取和高完整性資料流，滿足自動化偵測的需求。
交鑰匙AOI光學整合：作為一套完整的預配置影像擷取光學模組，專為自動化光學檢測（AOI）系統量身定制，結合了優質感測器和專用機械結構，消除了複雜的整合難題。
即時即時處理：專為高速工業生產線設計，可立即擷取並傳輸即時影像數據，確保即時缺陷偵測，避免造成生產線瓶頸。
卓越的色彩和灰階保真度：能夠精確區分微觀層面的顏色變化、結構缺陷和細微的灰階過渡，確保高精度分類和異常匹配。
工業級可靠性：採用堅固耐用的結構外殼，可承受嚴苛的製造環境，即使在設備持續振動和溫度波動的情況下，也能維持精確的光學對準。
應用程序/用例
印刷電路板 (PWBA/PCB) 偵測：廣泛應用於先進的 PWBA 偵測系統，用於識別組裝電路板上的表面異常、焊點缺陷、晶片缺失和線路錯位。
工業半導體及積體電路缺陷篩檢：適用於積體電路 (IC) 封裝線和晶圓偵測模組，用於偵測表面裂縫、晶片污染和自動零件位置基準測試。
高速紡織品及織物缺陷檢測：用於自動化紡織捲材系統，用於檢測運作中的布匹生產線上的織物污漬、鬆散絨毛、線材雜質、孔洞和圖案印刷錯位。
先進材料及連續表面視覺：專為自動化光學檢測平台量身定制，用於驗證生產線上的片材、金屬捲材、不織布和複合材料。
